日立科技UEX系统为工业X射线成像带来AI驱动的清晰度

日立科技AI突破性进展提升工业视觉清晰度

在制造业质量控制领域的重大进展中，日立科技推出了UEX系统，这是中国首个专为工业X射线检测设计的AI驱动超级增强系统。这项创新问世之际，工厂对更快、更精确的缺陷检测需求日益增长，同时又不影响工人安全。

闪电般快速的图像处理

该系统最突出的特点是其惊人的速度——仅需15毫秒即可处理高分辨率的1536×1536像素图像。"这比眨眼还快," 日立科技首席技术官梁伟博士解释道,"当你每天检查数千个半导体芯片或电池组件时，这些微秒级的提升将累积成显著的生产力增益。"

UEX通过深度学习算法同时处理多项任务来实现这一目标：

在工厂车间中，该技术展现出切实的优势：

1. 微观尺度的缺陷检测 该系统可揭示小至微米的缺陷——这在检查精密的半导体晶圆或锂离子电池层时至关重要。增强后的图像为后续AI分析提供了更优质的输入，减少了质量检查中的误报。

2. 更安全的工作环境 通过将成像时间缩短高达80%，UEX显著降低了产品和人员的辐射暴露。使用该系统的汽车铸造厂报告称，典型扫描时间从2分钟减少到25秒以内。

该系统利用了两种专有资源：

"传统算法难以应对多样材料和复杂结构,"梁博士指出,"我们的垂直视觉模型理解工业成像的独特挑战——无论是电池单元的层状结构还是金属铸件中的孔隙率。"

UEX已在多个行业支持关键检测：

该技术通过标准化通信协议与现有设备无缝集成，最大限度地降低了制造商的采用障碍。